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The material available from this page (images and captions) can be
used freely for press publications if properly acknowledged as work of
the University of Leipzig, Germany. Detailed author information is
included. The acceptable minimum requirement for quotation is
"University of Leipzig" or "Universität Leipzig".
Das Material (Bilder und Bildunterschriften), das von dieser Seite
heruntergeladen werden kann, kann frei in Pressepublikationen verwendet
werden, wenn die Urheberschaft der Universität Leipzig genannt
wird. Das akzeptable minimale Zitat ist "University of Leipzig" oder
"Universität Leipzig".
M. Grundmann
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Reverse Bias Luminescence of Silicon Solar Cells
Lichtemission von Silizium-Solarzellen unter Rückwärtsspannung
Image/Bildmaterial
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Caption/Bildunterschrift/Credit
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Surface morphology with superimposed reverse bias (-17V) electroluminescence
from defects along grain boundaries of a multi-crystalline silicon solar cell.
Oberflächenmorphologie einer Solarzelle mit überlagerter Lumineszenzintensität unter Rückwärtsspannung (-17V) von Defekten, die sich entlang zweier Korngrenzen anordnen.
M. Grundmann, D. Lausch/Universität Leipzig
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Surface morphology with superimposed reverse bias electroluminescence
(false colors) from defects along grain boundaries of a multi-crystalline silicon solar cell. Left: acidic, right: alkaline surface treatment. Width of each image: 90 micrometer.
Oberflächenmorphologie einer Solarzelle mit überlagerter Lumineszenzintensität unter Rückwärtsspannung (Falschfarbenbild) von Defekten, die sich entlang zweier Korngrenzen anordnen. Links: saure, rechts: basische Texturierung. Bildbreite jeweils 90 Mikrometer.
M. Grundmann, D. Lausch/Universität Leipzig |
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Surface morphology with superimposed reverse bias electroluminescence
from defects along grain boundaries of a multi-crystalline silicon solar cell. Left: acidic, right: alkaline surface treatment.
Oberflächenmorphologie einer Solarzelle mit überlagerter Lumineszenzintensität unter Rückwärtsspannung von Defekten, die sich entlang zweier Korngrenzen anordnen. Links: saure, rechts: basische Texturierung.
M. Grundmann, D. Lausch/Universität Leipzig |
Additional infos:
Pressemitteilung der Universität Leipzig
Phys. Status Solidi RRL 3, 70-72 (2009)
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